產(chǎn)品中心您當前的位置：首頁 > 產(chǎn)品中心 > 無損檢測儀器 > 涂層測厚儀 > 日本KETT LH-200J涂層測厚儀 膜厚計
基礎信息Product information
產(chǎn)品名稱：涂層測厚儀 膜厚計
產(chǎn)品型號：日本KETT LH-200J
產(chǎn)品簡介：
日本KETT LH-200J 涂層測厚儀 膜厚計本儀器采用了渦流測厚方法，可無損的測量非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上的非導電覆層的厚度（如琺瑯、相交、油漆、塑料等）。內(nèi)置打印機，可打印數(shù)據(jù)，有四個統(tǒng)計功能
產(chǎn)品特性Product characteristics
日本KETT LH-200J 涂層測厚儀 膜厚計
日本KETT LH-200J 涂層測厚儀 膜厚計 特點： 本儀器采用了渦流測厚方法，可無損的測量非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上的非導電覆層的厚度（如琺瑯、相交、油漆、塑料等）。內(nèi)置打印機，可打印數(shù)據(jù)，有四個統(tǒng)計功能。 LH-200J測定方法高頻渦流式測定對象非磁性金屬上絕緣層測定范圍0～800um或0～32.0mils測定精度<50um±1um >50um±2%分辨率<100um 0.1um >100um 1um界限設定可設定上/下限數(shù)值測試單位公/英制互換顯示方式LCD數(shù)顯操作面板密封防水按鍵附屬品鋁基體/校正標準片/電池/皮套/說明書電源DV3V 主機5#堿性電池×6個 打印機5#堿性電池×4個體積80（W）×80（D）×30（H）重量1100g |
|
|
|
|
 |
在線客服